中国科学研究人员在无损失的测试技术中空着填

他在6月13日报告说，微LED是高代高端可视化技术的中心组成部分。配备微型LED的奥斯卡奖必须达到100％的收率。否则，终端产品将带来巨大的维修成本。根据新华社的说法，国立大学国家研究技术和乐器的黄小教授团队，也是微型LED WAFER WAFER WAULE WAULE CLAUS BOKS科学和工程学系的报告，该技术在高等教育技术和高等教育技术领域中开始营销。将来，我们将通过提供批次检测解决方案（而损失，低成本）来扩展灵活的电子技术应用程序的领域。简而H对晶圆表面造成不可逆转的物理损害。有些人可以“大致显示”，但这具有较高的泄漏检测率和错误检测率。从这个意义上讲，研究团队提出了一种基于灵活的电子技术的首次检测方法。柔性3D结构矩阵构建具有物体表面形态的自适应变形，以“柔软性超过硬度”，将晶圆的表面接触到0.9 Megath的“呼吸压”。黄海教授说：“这项技术探测的接触压力仅为10,000到传统刚性探针的十分之一。不仅不仅导致使用晶粒表面，而且还导致探测器本身的磨损。此外，该团队还开发了一个衡量的测量测量系统，可填充3D探针的速度。微光发光，并为其他复杂的晶片检测提供了创新的技术解决方案。随着探针矩阵量表和检测通道的连续扩展，我们在晶圆水平上实现了集成检查。它可能会对爆发和生物恐惧症等地区产生广泛的影响。这些发现于6月13日发表在《国际学术自然电子杂志》上。这是ITHOME所附文档的链接：https：//www.nature.com/articles/s41928-025-025-01396-0